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薄膜测厚仪

简要描述:CH-1-ST型薄膜测厚仪:
本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。
本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。

  • 产品型号:CH-1-S
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-11-09
  • 访  问  量:1358

CH-1-S薄膜测厚仪的详细资料:

CH-1-ST型薄膜测厚仪:
本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。
本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。

技术参数:◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm  
◎上测头曲率半径:15-50mm 
◎测头对试样施加负荷:0.1-0.5N
◎测量精度: 100vm以内 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm 
◎执行标准:GB6672-86 
◎本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片).

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