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产品名称:薄膜专用测厚仪

产品型号:CH-1-S

产品报价:

产品特点:CH-1-ST型薄膜专用测厚仪:
本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。
本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。

产品详细资料:

CH-1-ST型薄膜测厚仪:
本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。
本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。

技术参数:◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm  
◎上测头曲率半径:15-50mm 
◎测头对试样施加负荷:0.1-0.5N
◎测量精度: 100vm以内 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm 
◎执行标准:GB6672-86 
◎本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片).

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